技術特點
 
·         適用于研究開發各種材料和薄膜材料電阻系數
·         高級應用程序控溫技術，實時溫度程序同步掃描
·         自由升/降溫、精確控制溫度程序，進行升溫、恒溫與降溫過程中的數據測量   
·         自動壓力安全保護設計，確保測試過程中不會發生爆炸
·         試樣支架采用獨特的接觸式平衡機構，保證測量的高重現性
·         可選原片狀樣品測量系統
·         可選高級數據采集技術，避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差

全球甄選一流供貨商，保證系統品質達到最高！

CRA系統硬件組成：

美國吉時利 Keithley（數據采集系統）
德國 W.HALDENWANGER （高溫陶瓷系統）
英國摩根Morgan（高溫特種材料）
美國通用電氣GE（光波加熱元件）
英國歐陸（調控器）
日本IKO （精密軸承）
 

測試性結構圖
 
圓柱形或棱形樣品垂直放置在兩電極之間，同時整個測量系統設置于一個加熱爐內。加熱爐加熱樣品到預定的溫度，在此溫度下， 直流電四端法測量電阻，樣品兩端通入恒定電流，測量樣品的電壓變化， 可以計算出電阻系數。

CRT技術參數

簡潔明了的專業軟件。