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熱電材料測試系統 CTA-3S
塞貝克系數/電阻分析系統 CTA-3S
鄭重承諾:全球甄選一流供貨商,保證系統品質達到最高!
堅決不做低價、減配、低品質的經濟版本和精簡版等系統,維護國內用戶的最大利益!
熱電材料測試系統CTA-3S系統是在CTA-3系統的基礎上升級性能更加強大的硬件(數據采集、變壓器、功率調控模塊、溫度調節器和電磁場屏蔽處理、溫度控制方式等優化),提高了溫度場控制精度和測量數據的準確性和重復性。
技術特點:
· 可控溫場下可同步測量賽貝克系數和電阻率
· 標準配置進口高級商用吉時利(Keithley )數采儀表,避免電路板集成數據采集技術帶來的干擾誤差
Keithley技術:
100nV rms 噪音本底
直流電壓靈敏度低至 10nV,基本精度為 0.002%(90天)
7ppm DCV 可重復性,基本 1 年 DCV 準確度:0.0028%
最大讀取速度范圍:2k 讀數/秒;
溫度分辨率:0.001℃;
交流電壓分辨率:0.1μV
電阻分辨率:1 μΩ
電流分辨率:1nA
低功耗歐姆測量模式
弱電流電路測試功能
偏置補償歐姆功能
檢定低壓元件又快又準確
提高測量精度的置信度
以低至 100μA 的源電流測量低阻抗,最大程度減少設備自發熱
進行電阻測量時控制測試電壓,避免擊穿可能已形成的任何氧化物或膜
消除會在系統環境中進行低電平電阻測量時產生錯誤的熱效應
提供更精確的低電阻測量
· 標配進口高級商用電流源(ADCMT),非電路板集成恒流源,避免無法精準輸出小電流而產生熱效應和測不準
· 恒流源參數:0.000-220mA;恒流設置分辨率:100nA;恒流穩定性:0.008+20nA/天
· 溫度范圍:RT up to 1150℃
· 光波爐加熱技術,潔凈加熱不污染樣品和無揮發性,對操作者安全健康;整體水路設計和鍍金處理,無水垢堵塞問題,終身免維護 · 控溫速率:0.01 –100K/min,可以節約用戶測試時間
· 配置垂直放樣結構,上下樣品支架夾持(三明治),精確控制溫度差
· 測量范圍:賽貝克系數:0.5μV/K-25V/K;電阻率:0.2μOhmm-2.5KOhmm
· 0-80K溫差范圍可任意設置溫差值及溫差點的個數
· U-I曲線自動掃描,計算出合適的電流數值, 可以精確測量電導率;不會對大電阻樣品產生誤差
· 鉑金大電極設計,和樣品可充分接觸,對于不均勻樣品也可獲得良好的導電測試
· 熱電偶間距可以根據樣品尺寸調節后固定,滿足不同科研要求
· 精度:賽貝克系數:±7 %;電導系數:±10 %(熱電材料測試,非康銅標樣);
· 重復性:3%
· 高級應用程序控溫技術,包括溫差和測量步進等高級要求
· 自由升/降溫、可精確控制溫度程序,進行升溫、恒溫與降溫過程中的數據測量
· 熱電偶探針可選K、S、R型(無需鎧裝)配置,不會產生非常大的接觸電阻
· 自動壓力安全保護設計,進口美國航天級硬件配置,確保測試過程中不會發生爆炸
· 測量系統:柱狀、片狀、長方體、薄膜等系統
溫度范圍
RT up to 800/1150°C
控溫速率
0.01 – 100k/min
控溫精度
+/-0.25K
測量方法
賽貝克系數:靜態直流電
電阻系數:四端法
測量范圍
賽貝克系數:0.5μV/K-25V/K
電阻率:0.2μOhmm-2.5KOhmm
分辨率
賽貝克系數:10nV/K
電阻率:10nOhmm
精度
賽貝克系數: ± 7 %
電導系數:± 10 %
重復性
3%
電流
0 to 220 mA(可控精準≤0.005mA)
恒流設置分辨率:100nA
恒流穩定性:0.008+20nA/天
數據采集
最大讀取速度范圍:2k 讀數/秒
氣氛
He、氧化、還原、真空
真空度
10E-3mbar
樣品尺寸
直徑或正方形:2 to 4 mm ;長度:6 to 22mm
2018年5月18日,世界頂級期刊《Science》發表了北京航空航天大學趙立東教授等學者在熱電材料硒化錫應用方面的重大研究成果:三維電子/二維聲子實現高ZT。祝賀趙老師課題組和其它合作課題組!
文章內容鏈接:
http://science.sciencemag.org/content/suppl/2018/05/16/360.6390.778.DC1
http://science.sciencemag.org/content/360/6390/778
2019年9月27日,《Science》雜志在線以全文Article的形式發表了北京航空航天大學材料科學與工程學院趙立東教授課題組在熱電材料研究上取得的新進展:
《High thermoelectric performance in low-cost SnS0.91Se0.09 crystals》發現并利用硫化錫(SnS)的多個能帶隨著溫度的演變規律,通過引入Se優化調控了有效質量和遷移率的矛盾,在儲量豐富、成本低廉、環境友好的SnS晶體材料中實現了高的熱電性能 (Science365 (2019) 1418-1424.)。
該工作通過溫度梯度法合成出 SnS1-xSex 晶體結構,并實現三個分離電子能帶之間相互作用的控制。Se 的引入實現電子傳輸(μ)和有效質量(m*)兩大參數的同時優化。300 K 時,PF 值從 30 升至 50 mW cm−1 K−2; 873 K 時,ZT 最大值和均值分別為 1.6 和 1.25。這種控制策略為優化熱電性能提供了一條不同的途徑。開發高性能SnS晶體是向低成本、地球資源豐富和環境友好型熱電技術邁進的重要一步。
文獻鏈接:High thermoelectric performance in low-cost SnS0.91Se0.09crystals, 2019, Science, DOI:10.1126/science.aax5123.
以下附件不包含在CTA系統標準配置中,需要用戶選配!
1、薄膜樣品夾具 CTA-tff
薄膜樣品夾具CTA-tff由不銹鋼材料精加工和人工手工琢磨打造, 采用先進的分體式設計理念, 可以對不同長度樣品夾持,可適配不同熱偶間距(4、6、8 mm);應用順滑螺絲緊固的方法, 可以對不同的樣品緊固, 由于采用了金屬作為導體接觸電極塊, 無需額外的金屬片就可以良好接觸電極導通。夾具可以匹配不同品牌的熱電材料分析系統,方便國內用戶的使用和更替。
技術參數
· 夾具材質:不銹鋼(其它貴金屬可定制)
· 夾持調節:分體式
· 夾持方式:螺絲緊固
· 樣品厚度:≤1.80 mm (包含底襯)
· 樣品寬度:≥4.00 mm
· 樣品高度:依據探針熱偶間距(4、6、8 mm)
2、視頻測距系統 Vra
在測試熱電材料的性能時,樣品熱偶間距的精確值對電導率測試的準確性非常重要;功率因子直接受電導率影響,進而影響熱電優值。
隨著熱偶的使用過程中, 需要不停的打磨熱偶的金屬頭, 熱偶的金屬頭和樣品的接觸點會不停的變化, 眼睛無法精準分辨接觸點的實際位置,如果用游標卡尺去測量這個間距,每個人會得出不同的數值,那么如何確保測量準確的, 采用視頻法測距是目前最可靠的方法之一。
為此柯銳歐設計了視頻測距系統(Vra),該系統由專業相機、鏡頭和視頻軟件、背景燈、支架、USB接口等組成, 可以自動快速、準確測量出樣品熱偶的間距,消除人眼測量誤差和實際變化的固定距離帶來的誤差;配合CTA的高級軟件, 可以自動輸入測試實驗參數欄,方便易用的設計,滿足了CTA用戶的需求。 同時該系統可以配置在其它品牌的熱電測試系統上使用, 為國內的熱電材料科研工作者提供服務!
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